Quá trình nào được sử dụng để kiểm tra chất lượng của wafer sau khi hoàn thành sản xuất?

Nguyên lý "Design for Testability (DFT)" trong thiết kế IC (Integrated Circuit - Vi mạch tích hợp) tập trung vào việc thiết kế các vi mạch sao cho chúng có thể dễ dàng được kiểm tra và xác định lỗi sau khi sản xuất. Điều này bao gồm việc thêm các cấu trúc kiểm tra vào thiết kế để tăng khả năng quan sát và điều khiển các tín hiệu bên trong vi mạch, giúp việc kiểm tra trở nên hiệu quả hơn. Phương án A: Tối ưu hóa hiệu suất vi mạch không phải là mục tiêu chính của DFT. DFT tập trung vào khả năng kiểm tra, chứ không phải hiệu suất hoạt động. Phương án B: Dễ dàng kiểm tra và xác định lỗi trong vi mạch là mục tiêu cốt lõi của DFT. Phương án C: Giảm tiêu thụ năng lượng của vi mạch không phải là mục tiêu chính của DFT. Mặc dù một số kỹ thuật DFT có thể ảnh hưởng đến năng lượng, nhưng đó không phải là mục tiêu hàng đầu. Phương án D: Tối ưu hóa kích thước của vi mạch không phải là mục tiêu chính của DFT. DFT có thể làm tăng kích thước chip do việc thêm các cấu trúc kiểm tra. Do đó, đáp án đúng là B.

RTL (Register Transfer Level) trong thiết kế IC là một phương pháp mô tả hoạt động của mạch số bằng cách sử dụng các thanh ghi và các phép chuyển dữ liệu giữa chúng. Nó tập trung vào việc mô tả luồng dữ liệu giữa các thanh ghi và các hoạt động logic thực hiện trên dữ liệu đó. * **Phương án A:** Mô tả cấu trúc logic của vi mạch - Đây là đáp án đúng. RTL mô tả mạch bằng các thanh ghi, các phép toán logic và các tín hiệu điều khiển, thể hiện chức năng logic của mạch. * **Phương án B:** Xác định vị trí của các thành phần trên vi mạch - Đây là công việc của physical design (thiết kế vật lý), không phải RTL. * **Phương án C:** Mô tả cấu trúc vật lý của vi mạch - Đây cũng là công việc của physical design, liên quan đến việc bố trí các transistor và dây dẫn trên chip. * **Phương án D:** Xác định điện trở của các thành phần trong vi mạch - Điện trở là một đặc tính vật lý, được xem xét ở giai đoạn mô phỏng và kiểm tra sau khi mạch đã được thiết kế vật lý.

Design Rule Checking (DRC) là một bước quan trọng trong quy trình thiết kế vi mạch (IC). Mục đích chính của DRC là kiểm tra xem thiết kế vi mạch có tuân thủ các quy tắc thiết kế (design rules) do nhà sản xuất đặt ra hay không. Các quy tắc này bao gồm các giới hạn về kích thước tối thiểu của các thành phần, khoảng cách tối thiểu giữa các lớp khác nhau, và các yêu cầu khác liên quan đến quy trình sản xuất. Việc tuân thủ các quy tắc này đảm bảo rằng vi mạch có thể được sản xuất một cách thành công và hoạt động đúng chức năng. Các lựa chọn khác như kiểm tra hiệu suất, độ chính xác và độ tin cậy là các bước kiểm tra khác nhau và được thực hiện sau khi DRC đã hoàn thành và vi mạch đã được sản xuất thử nghiệm.

Clock Gating là một kỹ thuật quan trọng trong thiết kế vi mạch, đặc biệt là trong các IC (Integrated Circuits) kỹ thuật số, nhằm mục đích giảm tiêu thụ năng lượng. Kỹ thuật này hoạt động bằng cách ngắt xung clock đến các phần của mạch khi chúng không hoạt động, từ đó giảm thiểu năng lượng tiêu thụ do chuyển mạch không cần thiết. * **A. Giảm tiêu thụ năng lượng của vi mạch:** Đây là mục tiêu chính của Clock Gating. Bằng cách ngăn chặn xung clock đến các phần không hoạt động của mạch, năng lượng tiêu thụ được giảm đáng kể. * **B. Tăng tốc độ xử lý của vi mạch:** Clock Gating không trực tiếp làm tăng tốc độ xử lý của vi mạch. Tốc độ xử lý thường liên quan đến kiến trúc mạch và tần số clock, không phải việc bật/tắt clock cho các phần khác nhau. * **C. Đảm bảo đồng bộ thời gian giữa các phần của vi mạch:** Clock Gating có thể ảnh hưởng đến đồng bộ thời gian nếu không được thực hiện cẩn thận, nhưng mục tiêu chính của nó không phải là đảm bảo đồng bộ. Thay vào đó, các kỹ thuật đồng bộ clock khác (ví dụ: clock tree synthesis) được sử dụng cho mục đích này. * **D. Tăng độ tin cậy của vi mạch:** Clock Gating không trực tiếp tăng độ tin cậy của vi mạch. Độ tin cậy thường liên quan đến các yếu tố như thiết kế chịu lỗi, kiểm tra và xác minh.