Trong thiết kế IC, nguyên lý "Design for Testability (DFT)" nhằm mục đích gì?
Trả lời:
Đáp án đúng: B
Nguyên lý "Design for Testability (DFT)" trong thiết kế IC (Integrated Circuit - Vi mạch tích hợp) tập trung vào việc thiết kế các vi mạch sao cho chúng có thể dễ dàng được kiểm tra và xác định lỗi sau khi sản xuất. Điều này bao gồm việc thêm các cấu trúc kiểm tra vào thiết kế để tăng khả năng quan sát và điều khiển các tín hiệu bên trong vi mạch, giúp việc kiểm tra trở nên hiệu quả hơn.
Phương án A: Tối ưu hóa hiệu suất vi mạch không phải là mục tiêu chính của DFT. DFT tập trung vào khả năng kiểm tra, chứ không phải hiệu suất hoạt động.
Phương án B: Dễ dàng kiểm tra và xác định lỗi trong vi mạch là mục tiêu cốt lõi của DFT.
Phương án C: Giảm tiêu thụ năng lượng của vi mạch không phải là mục tiêu chính của DFT. Mặc dù một số kỹ thuật DFT có thể ảnh hưởng đến năng lượng, nhưng đó không phải là mục tiêu hàng đầu.
Phương án D: Tối ưu hóa kích thước của vi mạch không phải là mục tiêu chính của DFT. DFT có thể làm tăng kích thước chip do việc thêm các cấu trúc kiểm tra.
Do đó, đáp án đúng là B.