Kính hiển vi điện tử xuyên:

 

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) sử dụng chùm điện tử truyền qua mẫu vật để tạo ra hình ảnh. - Phương án 1: Kính hiển vi điện tử truyền qua có độ phân giải rất cao, có thể đạt đến khoảng 0.2 nm trong thực tế, không phải 0.002 nm. Tuy nhiên, phương án này *gần đúng* nhất so với các phương án còn lại. Vì các phương án khác sai hoàn toàn. - Phương án 2: Kính hiển vi điện tử quét (SEM) được dùng để quan sát siêu cấu trúc bề mặt, không phải TEM. - Phương án 3: Kính hiển vi không dùng để quan sát sự chuyển động của cấu trúc nhỏ, mà để quan sát hình thái, cấu trúc tĩnh. - Phương án 4: Vật kính của kính hiển vi điện tử là các thấu kính từ (điện từ trường), không phải "vòng". Do đó, phương án 1 là đáp án đúng nhất trong các lựa chọn được đưa ra, mặc dù giá trị độ phân giải không hoàn toàn chính xác.