Trong đo lường, sai số hệ thống thường được gây ra bởi:

Sai số hệ thống là loại sai số có tính chất lặp lại và có thể dự đoán được. Nó thường xuất phát từ những nguyên nhân cụ thể và ổn định, thường liên quan đến dụng cụ đo hoặc phương pháp đo không hoàn hảo. Do đó: - **Đáp án A (Người thực hiện phép đo):** Sai số do người thực hiện phép đo thường là sai số ngẫu nhiên (ví dụ: đọc kết quả không chính xác, phản ứng chậm), không phải sai số hệ thống. - **Đáp án B (Dụng cụ đo):** Dụng cụ đo bị hỏng, calibration không chính xác hoặc có sai sót thiết kế là nguyên nhân phổ biến gây ra sai số hệ thống. Ví dụ: thước bị co giãn, ampe kế bị lệch kim. - **Đáp án C (Đại lượng cần đo):** Bản thân đại lượng cần đo không gây ra sai số hệ thống. Sai số có thể phát sinh nếu phương pháp đo không phù hợp với đại lượng đó. - **Đáp án D (Môi trường):** Môi trường có thể gây ra cả sai số hệ thống và sai số ngẫu nhiên. Ví dụ, nhiệt độ ảnh hưởng đến kích thước của thước đo (sai số hệ thống), hoặc gây ra nhiễu trong quá trình đo điện (sai số ngẫu nhiên). Như vậy, đáp án chính xác nhất là **B. Dụng cụ đo** vì nó trực tiếp gây ra sai số hệ thống một cách có hệ thống và có thể dự đoán được.